JB/T8233-1999立式接触式干涉仪

本标准规定了立式接触式干涉仪的基本参数及尺寸、技术要求、试验方法等。本标准适用于比较法测量长度的立式接触式干涉仪。

标准号：JB/T 8233-1999

标准名称：立式接触式干涉仪

英文名称：Vertical contact interferometers

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：1999-08-06

实施日期：2000-01-01

中国标准分类号（CCS）：仪器、仪表>>光学仪器>>N34光学计量仪器

国际标准分类号（ICS）：计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>1718030光学测量仪器

替代以下标准：JB/T 8233-1995;公告：中华人民共和国工业和信息化部公告 2017年(第23号)

起草单位：上海光学仪器研究所、贵阳光电技术研究所

归口单位：全国光学和光学仪器标委会

发布单位：国家机械工业局