JB/T8268-2015静电复印光导体表面缺陷测量方法

本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。

标准号：JB/T 8268-2015

标准名称：静电复印光导体表面缺陷测量方法

英文名称：Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2015-04-30

实施日期：2015-10-01

中国标准分类号（CCS）：仪器、仪表>>电影、照相、缩微、复印设备>>N47缩微复印机械

国际标准分类号（ICS）：成像技术>>印制技术>>3710010印刷、复制设备

替代以下标准：替代JB/T 8268-1999

起草单位：天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备（常熟）有限公司等

归口单位：全国复印机械标准化技术委员会（SAC/TC 147）

发布单位：工业和信息化部