JB/T8270-1999静电复印光导体膜层厚度测量方法

标准号：JB/T 8270-1999

标准名称：静电复印光导体膜层厚度 测量方法

英文名称：Standard test method for coating thickness measurement of electrostatic copying photoconductor

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：1999-08-06

实施日期：2000-01-01

中国标准分类号（CCS）：仪器、仪表>>电影、照相、缩微、复印设备>>N47缩微复印机械

替代以下标准：JB 8270-1995(原标准号GB 10998-89);标准的主要技术内容属于企业内部制造过程控制和工艺规定的内容。

归口单位：全国复印机械标委会

发布单位：国家机械工业局