SJ/T10566-1994可测性总线第一部分：标准测试存取口与边界扫描结构

本标准规定了数字集成电路和模拟/数字混合集成电路的数字部分用的测试存取口（TAP）与边界扫描结构。本标准规定的测试逻辑可包含在集成电路内，由一个边界扫描寄存器和若干其它块构成，并可通过测试存取口进行存龋本标准适用于在集成电路组装在一块印制电路板或其它基底上后测试集成电路间的互连性、测试集成电路本身和在这个器件正常工作期间观测或修改电路的动作。

标准号：SJ/T 10566-1994

标准名称：可测性总线 第一部分：标准测试存取口与边界扫描结构

英文名称：Testability bus -Part 1:Standard test access port and boundary scan architecture

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：1994-08-08

实施日期：1994-12-01

中国标准分类号（CCS）：矿业>>矿业综合>>D01技术管理

起草单位：天津大学、北京自动测试技术研究所

归口单位：电子工业部标准化研究所

发布单位：电子工业部