SJ/T10736-1996半导体集成电路ＨＴＬ电路测试方法的基本原理
标准号：SJ/T 10736-1996
标准名称：半导体集成电路 ＨＴＬ电路测试方法的基本原理
英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for HTL circuits
标准类型：行业标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：1996-11-20
实施日期：1997-01-01
中国标准分类号（CCS）：化工>>化工综合>>G01技术管理
替代以下标准：原标准号GB 3440-82
SJ/T10731-1996普通间隙螺纹公差
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SJ/T10732-1996电子管型号命名方法
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本标准规定了电子管型号命名方法。本标准适用于各类电子管。 标准号：SJ/T 10732-2000 标准名称：电子管型号命名方法 英文名称：The type designation for electron tubes 标准类
