SJ/T10737-1996半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理

2025-06-28

标准号:SJ/T 10737-1996

标准名称:半导体集成电路 ECL电路测试方法的基本原理

英文名称:Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for ECL circuits

标准类型:行业标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:1996-11-20

实施日期:1997-01-01

中国标准分类号(CCS):化工>>化工综合>>G01技术管理

替代以下标准:原标准号GB 3441-82

SJ/T10736-1996半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理
SJ/T10739-1996半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
猜您喜欢......
返回顶部小火箭