SJ/T10739-1996半导体集成电路ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理
标准号：SJ/T 10739-1996
标准名称：半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理
英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for MOS random access memories
标准类型：行业标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：1996-11-20
实施日期：1997-01-01
中国标准分类号（CCS）：化工>>化工综合>>G01技术管理
替代以下标准：原标准号GB 3443-82
SJ/T10731-1996普通间隙螺纹公差
本标准适用于国家标准GB196-63中螺距0.2~2mm粗牙和细牙形成保证间隙的普通螺纹 标准号：SJ/T 10731-1996 标准名称：普通间隙螺纹公差 英文名称：Tolerances for regular clearanc
SJ/T10732-1996电子管型号命名方法
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标准号：SJ/T 10733-1996 标准名称：电子件单孔安装轴套型式及尺寸 英文名称：Types and dimensions for single-hole mounting bushes of electronic components 标准类型：行业标
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标准号：SJ/T 10734-1996 标准名称：半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 英文名称：Letter symbols for semiconductor integrated circuits-Letter symbols for electrical
SJ/T10732-2000电子管型号命名方法
本标准规定了电子管型号命名方法。本标准适用于各类电子管。 标准号：SJ/T 10732-2000 标准名称：电子管型号命名方法 英文名称：The type designation for electron tubes 标准类
