SJ/T11212-1999石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量

本规范适用于石英晶体件激励电平相关性（DLD）的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z91541-87的π型网络为基础，适宜 和于该标覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。

标准号：SJ/T 11212-1999

标准名称：石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量

英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：1999-08-26

实施日期：1999-12-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件

起草单位：电子工业部标准化研究所

归口单位：电子工业部标准化研究所

发布单位：信息产业部