SJ/T11702-2018半导体集成电路串行外设接口测试方法
本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。本标准适用于半导体集成电路串行外设接口电特性及功能验证。
标准号：SJ/T 11702-2018
标准名称：半导体集成电路 串行外设接口测试方法
标准类型：行业标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
发布单位：工业和信息化部
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