SJ1551-79硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)

2025-06-28

标准号:SJ 1551-79

标准名称:硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)

英文名称:Method of measurement for resistivity of silicon epitaxial layer (capacitance-voltage method) (Provisional)

标准类型:行业标准

标准状态:现行

发布日期:1980-03-01

实施日期:1980-06-01

中国标准分类号(CCS):综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理

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