SJ1551-79硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)

标准号:SJ 1551-79
标准名称:硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)
英文名称:Method of measurement for resistivity of silicon epitaxial layer (capacitance-voltage method) (Provisional)
标准类型:行业标准
标准状态:现行
发布日期:1980-03-01
实施日期:1980-06-01
中国标准分类号(CCS):综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理
