SJ20147.1-1992银和银合金镀覆层厚度测量方法Ｘ射线荧光光谱法

本标准规定了用x射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是’一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量，也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。

标准号：SJ 201471-1992

标准名称：银和银合金镀覆层厚度测量方法 Ｘ射线荧光光谱法

英文名称：Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry

标准类型：行业标准

标准状态：现行

发布日期：1992-11-19

实施日期：1993-05-01

中国标准分类号（CCS）：医药、卫生、劳动保护>>医药、卫生、劳动保护综合>>C01技术管理

起草单位：中国华晶电子集团公司等单位

归口单位：中国电子技术标准化研究所

发布单位：中国电子工业总公司