SJ20233-1993IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程

标准号：SJ 20233-1993

标准名称：IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程

英文名称：Verification regulation of model IMPACT-II semiconductor discrete device test sysytem

标准类型：行业标准

标准状态：作废

发布日期：1993-02-09

实施日期：1993-05-01

中国标准分类号（CCS）：>>>>L0150