SJ20744-1999半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则

标准号：SJ 20744-1999

标准名称： 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则

英文名称：General rule of infrared absorption spectral analysis for the impurity concentration in semiconductor materials

标准类型：行业标准

标准状态：现行

中国标准分类号（CCS）：H80

国际标准分类号（ICS）：29045