SJ20844-2002半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法

标准号：SJ 20844-2002

标准名称： 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法

英文名称：Test method for microzone homogeneity of semi-insulating monocrystal gallium arsenide

标准类型：行业标准

标准状态：现行

发布日期：2003-03-01

实施日期：2003-03-01

中国标准分类号（CCS）：H83