SJ20858-2002碳化硅单晶材料电学参数测试方法

标准号：SJ 20858-2002

标准名称： 碳化硅单晶材料电学参数测试方法

英文名称：Measuring methods for electrical parameters of silicon carbide single crystal material

标准类型：行业标准

标准状态：现行

发布日期：2003-05-01

实施日期：2003-05-01

中国标准分类号（CCS）：H83