YS/T364-2006纯铱中杂质素的发射光谱分析

本标准规定了纯铱中杂质含量的测定方法。本标准适用于999%～9999%纯铱粉中杂质素含量的测定，测定素及含量范围见表1。

标准号：YS/T 364-2006

标准名称：纯铱中杂质素的发射光谱分析

英文名称：Determination of trace impurities in purity iridium by atomic emission spectrometric

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2006-05-25

实施日期：2006-12-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属化学分析方法>>H15贵金属及其合金分析方法

国际标准分类号（ICS）：冶金>>金属材料试验>>7704030金属材料化学分析

替代以下标准：替代YS/T 364-1994

起草单位：贵研铂业股份公司

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

发布单位：国家发展和改革委员会