YS/T666-2008工业镓化学分析方法杂质素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。本标准适用于工业镓[999%≤ω(%)≤99995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。

标准号：YS/T 666-2008

标准名称：工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

英文名称：Chemical analysis emthods of gallium for industrial use--Determination of impurity elements--Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2008-03-12

实施日期：2008-09-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法

国际标准分类号（ICS）：冶金>>有色金属>>7712099其他有色金属及其合金

起草单位：中国铝业股份有限公司河南分公司;中国有色金属工业标准计量质量研究所

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

发布单位：国家发展和改革委员会