GB/T4326-2006非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

本标准规定的测量方法适用于非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。 本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达104Ω·cm

标准号：GB/T 4326-2006

标准名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

英文名称：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2006-07-18

实施日期：2006-11-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

国际标准分类号（ICS）：冶金>>金属材料试验>>7704001金属材料试验综合

替代以下标准：替代GB/T 4326-1984

起草单位：北京有色金属研究总院

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫