GB/T36477-2018半导体集成电路快闪存储器测试方法

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。

标准号：GB/T 36477-2018

标准名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法

英文名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2018-06-07

实施日期：2019-01-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

起草单位：中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造(上海)有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

发布单位：国家市场监督管理总局