GB/T34479-2017硅片字母数字标志规范

本标准规定了硅片或其他半导体晶片上字母数字标志的编码规范，包括标志的形状和尺寸、字母数字代码的定义、要求和字母数字错码检验方法等。该标志及关联信息存入数据库，可被简单的自动光学字符读数（OCR）仪或人工进行独立、快速识别，确保晶片制造商对晶片标记的一致性。 本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。

标准号：GB/T 34479-2017

标准名称：硅片字母数字标志规范

英文名称：Specification for alphanumeric marking of silicon wafers

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2017-10-14

实施日期：2018-07-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合

国际标准分类号（ICS）：电气工程>>29045半导体材料

起草单位：有研半导体材料有限公司、浙江省硅材料质量检验中心

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全

发布单位：国家质量监督检验检疫