GB/T23413-2009纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定X射线衍射线宽化法

本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于01%的纳米材料。

标准号：GB/T 23413-2009

标准名称：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

英文名称：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2009-04-01

实施日期：2009-12-01

中国标准分类号（CCS）：仪器、仪表>>试验机与无损探伤仪器>>N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器

国际标准分类号（ICS）：试验>>19100无损检测

起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院

归口单位：全国微束标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫