GB/T20724-2006薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

2025-06-29

本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体厚度的会聚束电子衍射方法。

标准号:GB/T 20724-2006

标准名称:薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

英文名称:Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:作废

发布日期:2007-03-26

实施日期:2007-08-01

中国标准分类号(CCS):仪器、仪表>>物质成分分析仪器与环境监测仪器>>N53电化学、热化学、光学式分析仪器

国际标准分类号(ICS):化工技术>>分析化学>>7104099有关化学分析方

替代以下标准:被GB/T 20724-2021代替

起草单位:北京科技大学

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

发布单位:国家质量监督检验检疫

GB/T20726-2006半导体探测器X射线能谱仪通则
GB/T20724-2021微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
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