GB/T20724-2021微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注： 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀，用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。

标准号：GB/T 20724-2021

标准名称：微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

英文名称：Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2021-12-31

实施日期：2022-07-01

中国标准分类号（CCS）：仪器、仪表>>物质成分分析仪器与环境监测仪器>>N53电化学、热化学、光学式分析仪器

国际标准分类号（ICS）：化工技术>>分析化学>>7104099有关化学分析方

替代以下标准：替代GB/T 20724-2006

起草单位：北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

发布单位：国家市场监督管理总局