GB/T14619-2013厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本 标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的生产和采购,采用厚膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。

标准号：GB/T 14619-2013

标准名称：厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

英文名称：Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2013-11-12

实施日期：2014-04-15

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料

国际标准分类号（ICS）：31030

替代以下标准：替代GB/T 14619-1993

起草单位：中国电子技术标准化研究院

归口单位：中国电子技术标准化研究院

发布单位：国家质量监督检验检疫