GB/T14619-1993厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

2025-06-29

本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片,片状件用氧化铝陶瓷基片亦可参照使用。

标准号:GB/T 14619-1993

标准名称:厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

英文名称:Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:作废

发布日期:1993-09-03

实施日期:1993-01-02

中国标准分类号(CCS):>>>>L32

国际标准分类号(ICS):电子学>>31200集成电路、微电子学

替代以下标准:被GB/T 14619-2013代替

起草单位:国营七九九厂

归口单位:信息产业部(电子)

发布单位:国家技术监督局

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