GB/T14028-2018半导体集成电路模拟开关测试方法

本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。 本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。

标准号：GB/T 14028-2018

标准名称：半导体集成电路 模拟开关测试方法

英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2018-03-15

实施日期：2018-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

替代以下标准：替代GB/T 14028-1992

起草单位：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子(北京)股份有限公司、西北工业大学

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

发布单位：国家质量监督检验检疫