GB/T14028-1992半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理

本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。

标准号：GB/T 14028-1992

标准名称：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理

英文名称：General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1992-01-02

实施日期：1993-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

替代以下标准：被GB/T 14028-2018代替

起草单位：上海件五厂

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家技术监督局