GB/T12964-1996硅单晶抛光片
标准号：GB/T 12964-1996
标准名称：硅单晶抛光片
英文名称：Monocrystalline silicon polished wafers
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：作废
发布日期：1996-11-04
实施日期：1997-04-01
中国标准分类号（CCS）：冶金>>半金属与半导体材料>>H82元素半导体材料
国际标准分类号（ICS）：电气工程>>29045半导体材料
替代以下标准：GB 12964-1991;被GB/T 12964-2003代替
GB/T12969.2-2007钛及钛合金管材涡流探伤方法
本标准规定了以人工对比试样的反射信号为依据，检测钛及钛合金管材不连续性缺陷的涡流探伤方法。 标准号：GB/T 12969.2-2007 标准名称：钛及钛合金管材涡流探伤方法 英文名称：Meth
GB/T12969.2-1991钛及钛合金管材涡流检验方法
标准号：GB/T 12969.2-1991 标准名称：钛及钛合金管材涡流检验方法 英文名称：Method of eddy current testing for titanium and titanium alloy tubes 标准类型：国家标准 标准性
GB/T12969.1-2007钛及钛合金管材超声波探伤方法
本标准规定了以人工对比试样的反射信号为依据，检测钛及钛合金管材不连续性缺陷的超声波探伤方法。 标准号：GB/T 12969.1-2007 标准名称：钛及钛合金管材超声波探伤方法 英文名称
GB/T12969.1-1991钛及钛合金管材超声波检验方法
标准号：GB/T 12969.1-1991 标准名称：钛及钛合金管材超声波检验方法 英文名称：Method of ultrasonic testing and eddy current testing for titanium and titanium alloy tube
GB/T12968-1991纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法
本标准规定了纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法。本标准适用于直径5~20mm，电阻率10-12~10-8Ω·m的纯金属试样的测量。 标准号：GB/T 12968-1991 标准名称：纯金属电阻率
