GB/T11498-2018半导体器件集成电路第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)半导体器件集成电路第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)

《半导体器件　集成电路》的本部分适用于作为目录内电路或定制电路而制造的、其质量是以鉴定批准为基础评定的膜集成电路和混合膜集成电路。本部分的目的是为额定值和特性提供优先值，从总规范中选择合适的试验和测量方法，并且给出根据本部分制定的膜集成电路和混合膜集成电路详细规范使用的通用性能要求。优先值的概念直接应用于目录内电路，但是不必应用于定制电路。参照本部分制定的详细规范所规定的试验严酷等级和要求可等于或高于分规范的性能水平，不准许有更低的性能水平。 同本部分相联系的有一个或多个空白详细

标准号：GB/T 11498-2018

标准名称：半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)

英文名称：Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 21:Sectional specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2018-12-28

实施日期：2019-07-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L57膜集成电路

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

替代以下标准：替代GB/T 11498-1989

起草单位：中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

发布单位：国家市场监督管理总局