SJ/T10481-1994硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法

2025-06-28

标准号:SJ/T 10481-1994

标准名称:硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法

英文名称:Test method for resistivity of silicon epitaxial layers by area contacts three-probe techniques

标准类型:行业标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:1994-04-11

实施日期:1994-10-01

中国标准分类号(CCS):能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理

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