SJ/T10481-1994硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法

标准号:SJ/T 10481-1994
标准名称:硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法
英文名称:Test method for resistivity of silicon epitaxial layers by area contacts three-probe techniques
标准类型:行业标准
标准性质:推荐性
标准状态:现行
发布日期:1994-04-11
实施日期:1994-10-01
中国标准分类号(CCS):能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理
