SJ/T10740-1996半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理
标准号：SJ/T 10740-1996
标准名称：半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理
英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for bipolar random access memories
标准类型：行业标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：1996-11-20
实施日期：1997-01-01
中国标准分类号（CCS）：化工>>化工综合>>G01技术管理
替代以下标准：原标准号GB 3444-82
SJ/T10740-1996半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理
标准号：SJ/T 10740-1996 标准名称：半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理 英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring meth
SJ/T10741-1996半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
标准号：SJ/T 10741-1996 标准名称：半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS
SJ/T10741-2000半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
本规范规定了半导体集成电路CMOS电路（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路集成电路CMOS电路电特性的测试。 标准号：SJ/T 10741-2000 标准名称：
SJ/T10744-1996钨钼丝生产专用名词术语
标准号：SJ/T 10744-1996 标准名称：钨钼丝生产专用名词术语 英文名称：Glossary of terms for production of tungsten and molybdenum wires 标准类型：行业标准 标准性质：推荐性
SJ/T10742-1996电子陶瓷零件公差
标准号：SJ/T 10742-1996 标准名称：电子陶瓷零件公差 英文名称：Tolerances for electronic ceramic parts 标准类型：行业标准 标准性质：推荐性 标准状态：现行 发布日期：1996-11-20
