SJ/T10741-2000半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理

本规范规定了半导体集成电路CMOS电路（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路集成电路CMOS电路电特性的测试。

标准号：SJ/T 10741-2000

标准名称：半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理

英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS circuits

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2000-12-28

实施日期：2001-03-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

替代以下标准：SJ/T 10741-1996(原标准号GB 3834-1983)

起草单位：中国电子技术标准化研究所

归口单位：中国电子技术标准化研究所

发布单位：信息产业部