SJ/T10745-1996半导体集成电路机械和气候试验方法

标准号：SJ/T 10745-1996

标准名称：半导体集成电路机械和气候试验方法

英文名称：Mechanical and climatic test methods for semiconductor integrated circuits

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：1996-11-20

实施日期：1997-01-01

中国标准分类号（CCS）：医药、卫生、劳动保护>>医药、卫生、劳动保护综合>>C01技术管理

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

替代以下标准：原标准号GB 4590-84