SJ/T11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法

主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。

标准号：SJ/T 11399-2009

标准名称：半导体发光二极管芯片测试方法

英文名称：Measurement methods for chips of light emitting diodes

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2009-11-17

实施日期：2010-01-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L45微波、毫米波二、三极管

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31260光电子学、激光设备

起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司

归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究所

发布单位：工业和信息化部