SJ/T11699-2018IP核可测性设计指南

2025-06-28

本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构,对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。

标准号:SJ/T 11699-2018

标准名称:IP核可测性设计指南

标准类型:行业标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2018-02-09

实施日期:2018-04-01

发布单位:工业和信息化部

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