SJ/T11706-2018半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。
标准号：SJ/T 11706-2018
标准名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
标准类型：行业标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
发布单位：工业和信息化部
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