SJ/T11766-2020光电耦合器件低频噪声参数测试方法

2025-06-28

本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。

标准号：SJ/T 11766-2020

标准名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2020-12-09

实施日期：2021-04-01

发布单位：工业和信息化部

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