SJ20635-1997半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法

2025-06-28

标准号:SJ 20635-1997

标准名称:半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法

英文名称:Test method for residual impurities concentration in microzone of semi-insulating gallium arsenide

标准类型:行业标准

标准状态:现行

发布日期:1997-06-17

实施日期:1997-10-01

中国标准分类号(CCS):>>>>L5971

SJ20636-1997IC用大直径薄硅片的氧、碳含量微区试验方法
SJ20638-1997TFT-LCD用液晶材料规范
猜您喜欢......
返回顶部小火箭