GB/T4937.4-2012半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

GB/T4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

标准号：GB/T 49374-2012

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2012-11-05

实施日期：2013-02-15

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>半导体器件>>3108001半导体器件综合

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

发布单位：国家质量监督检验检疫