GB/T4937.11-2018半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法

GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气?空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气-空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 242322-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

标准号：GB/T 493711-2018

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法

英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2018-09-17

实施日期：2019-01-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>半导体器件>>3108001半导体器件综合

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

发布单位：国家市场监督管理总局