GB/T35007-2018半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法

本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号（LVDS，Low Voltage Differential Signaling）电路（以下称为器件）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。 本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。

标准号：GB/T 35007-2018

标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2018-03-15

实施日期：2018-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

起草单位：成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

发布单位：国家质量监督检验检疫