GB/T35006-2018半导体集成电路电平转换器测试方法

本标准规定了半导体集成电路电平转换器（以下称为器件）功能、静态参数和动态参数的测试方法。 本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。

标准号：GB/T 35006-2018

标准名称：半导体集成电路 电平转换器测试方法

英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2018-03-15

实施日期：2018-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

起草单位：深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC

发布单位：国家质量监督检验检疫