GB/T14140.2-1993硅片直径测量方法千分尺法

2025-06-29

本标准规定了用千分尺测量硅片直径的方法。本标准适用于测量圆形硅片的直径。本标准不适用于测量硅片的不圆度。本标准不作为仲裁测量方法。

标准号:GB/T 141402-1993

标准名称:硅片直径测量方法 千分尺法

英文名称:Silicon slices and wafers-Measuring of diameter-Micrometer method

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:作废

发布日期:1993-02-06

实施日期:1993-10-01

中国标准分类号(CCS):冶金>>半金属与半导体材料>>H81半金属

国际标准分类号(ICS):冶金>>金属材料试验>>7704001金属材料试验综合

替代以下标准:被GB/T 14140-2009代替

起草单位:洛阳单晶硅厂

归口单位:全国半导体材料和设备标准化技术委员会

发布单位:国家技术监督局

GB/T14139-2009硅外延片
GB/T14139-1993硅外延片
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