SJ/T11394-2009半导体发光二极管测试方法

主要规定了半导体发光二极管电特性测试方法、光特性测试方法、光电特性测试方法、颜色特性测试方法、热学特性测试方法和静电放电敏感性测试方法等。

标准号：SJ/T 11394-2009

标准名称：半导体发光二极管测试方法

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2009-11-17

实施日期：2010-01-01

替代以下标准：替代SJ/T 23551-1983~SJ/T 23557-1983

起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会

归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究所

发布单位：工业和信息化部