GB/T4937.3-2012半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检

T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验，适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

标准号：GB/T 49373-2012

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2012-11-05

实施日期：2013-02-15

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫