GB/T4937.12-2018半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。?本试验与GB/T 242310-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

标准号：GB/T 493712-2018

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12:Vibration,variable frequency

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2018-09-17

实施日期：2019-01-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>半导体器件>>3108001半导体器件综合

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

发布单位：国家市场监督管理总局