GB/T4937.1-2006半导体器件机械和气候试验第1部分:总则

本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。

标准号：GB/T 49371-2006

标准名称：半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则

英文名称：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2006-08-23

实施日期：2007-02-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31080半导体器件

替代以下标准：替代GB/T 4937-1995

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫