SJ/T11499-2015碳化硅单晶电学性能的测试方法

2025-06-28

本标准规定了利用范德堡法测试6H、4H等晶型碳化硅单晶的导电类型、电阻率、迁移率、载流子浓度的方法。

标准号:SJ/T 11499-2015

标准名称:碳化硅单晶电学性能的测试方法

标准类型:行业标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2015-04-30

实施日期:2015-10-01

发布单位:工业和信息化部

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